Применение методов анализа поверхности металлопродукции

Кол-во часов:  8
Тип Обучения:  Семинар

ПРОГРАММА ОБУЧЕНИЯ

Сканирующая электронная микроскопия и микрорентгеноспектральный анализ.

Принципы сканирующей электронной микроскопии. Устройство сканирующего электронного микроскопа (СЭМ).

Металлографические исследования методом СЭМ. Сравнение возможностей оптической металлографии и СЭМ. Топографический и атомный контраст.

Особенности морфологии поверхности разрушения. Виды изломов, усталостных и коррозионных повреждений поверхности.

Микрорентгеноспектральный анализ элементного состава поверхности. Принципы, устройство спектроанализаторов, возможности и ограничения. Качественный, полуколичественный и количественный анализ.

Электронная спектроскопия и масс-спектроскопия вторичных ионов.

Принципы электронной спектроскопии для анализа поверхности. Номенклатура методов электронной спектроскопии. Вопросы глубинного и пространственого разрешения методов (РФС, ОЭС, ВИМС).

Особенности рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии при исследовании металлов, сплавов, полимеров и нанокристаллов.

Особенности спектроскопии Оже-электронов. Сканирующая ОЭС, микроскопия, глубинное профилирование, исследование сегрегационных явлений.

Масс-спектроскопия вторичных ионов. Преимущества метода при определении следовых содержаний химических элементов и их соединений. Статические и динамические исследования. Глубинное профилирование.

Тонкие методики исследования для высоких технологий и  научных приложений.

Обобщающие представления о преимуществах, недостатках и перспективах применения методов анализа поверхности.

Занятия проводятся в аудиториях, научных лабораториях и отделениях, оснащенных современным высокотехнологичным оборудованием, что позволяет слушателям получить уникальный опыт работы.

По окончанию обучения проводится итоговая аттестация в форме тестирования и выдается удостоверение о повышении квалификации установленного образца.

Формы обучения: очная, онлайн.

Стоимость обучения: 23.500 рублей.

Записаться на курс