Горячие темы:

План выставок, конференций и семинаров ФГУП "ЦНИИчермет им. И.П.Бардина" на 2018г

Печать E-mail

1 ноября 2012 года в помещении Центра повышения квалификации (ЦПК) ФГУП «ЦНИИчермет им. И.П.Бардина» будет проводиться научно-технический семинар по методам исследования поверхности, организованный совместно с компанией Technoinfo Ltd.

 

Семинар будет проходить в здании ЦНИИчермет по адресу: г. Москва, ул. 2-я Бауманская, д. 9/23, помещение

Центра переподготовки и повышения квалификации (5 этаж, аудитория № 2).

 

Программа семинара

Время

Название доклада

Докладчик

10.00 – 10.45

XPS-Imaging - a helpful tool in surface-analysis

Dr. Klaus Oswald

(Ktatos Analytical)

10.50 – 11.20

Электронная микроскопия от компании FEI: новые разработки на примере системы Nova NanoSEM.

Андрей Полетаев

(Technoinfo Ltd.)

11.25 – 12.05

Новые возможности методов времяпролётной ВИМС и рассеяния медленных ионов как уникальных масс-чувствительных методов химического анализа поверхности.

Иван Бредихин

(Technoinfo Ltd.)

 

ЗАКУПКИ

ЭПК

АРХИВ ЖУРНАЛА

ЦЕНТР ПОВЫШЕНИЯ КВАЛИФИКАЦИИ

ГОСТИНИЦА