Горячие темы:

План выставок, конференций и семинаров ФГУП "ЦНИИчермет им. И.П.Бардина" на 2018г

Печать E-mail

21 апреля 2011 года в ФГУП «ЦНИИчермет им. И.П.Бардина» состоялся научно-технический семинар «Современные тенденции развития оборудования для анализа поверхности материалов и покрытий», посвященный новейшим средствам аналитического контроля и анализа поверхности материалов и твердых тел, а также последним тенденциям развития методов электронной и времяпролетной ионной масс-спектрометрии, организованный совместно с представительствами американских компаний Intertech Corporation, TechnoInfo Inc. в Москве

ПРОГРАММА СЕМИНАРА

10.00- Последнее поколение оборудования для анализа поверхности материалов и покрытий

методы: РФЭС и Оже спектрометрия. Особенности системы Escalab 250 XI компании Thermo Scientific..

 

10.30- Времяпролетная вторично ионная масс спектрометрия: принцип метода и области применения

методы: TOF SIMS компании IONTOF

 

11.00- Наномеханические испытания материалов, АСМ и профилометрия поверхности.

методы: Наноинденторы и скретч - тестеры Hysitron Inc, АСМ Asylum Research, оптические и стилусные профилометры KLA-Tencor Inc.

 

12.00- Обзор современных методов и технологий для изучения структуры поверхности твёрдых тел

методы: SEM, TEM, FIB, EDX компании FEI, LEIS компании IonTOF

 

При возникновении вопросов обращайтесь на почту: Этот e-mail адрес защищен от спам-ботов, для его просмотра у Вас должен быть включен Javascript ,

Контактное лицо: Александр Андреевич Шафоростов, Вера Сергеевна Неудачина

(рабочий телефон (495)232-4225, мобильный (916)809-5951)

WWW.INTERTECH-CORP.RU

 

ЗАКУПКИ

ЭПК

АРХИВ ЖУРНАЛА

ЦЕНТР ПОВЫШЕНИЯ КВАЛИФИКАЦИИ

ГОСТИНИЦА